معرفی :

آنالیز SEM یا میکروسکوپ الکترونی روبشی از اعضای خانواده میکروسکوپ های الکترونی است که جهت تصویربرداری و تعیین ویژگی های سطحی و مورفولوژی نمونه استفاده می شود. قدرت تفکیک بالای الکترون ها در مقایسه با نور منجر به افزایش قدرت بزرگنمایی تا چند ده هزار برابر شده که می تواند جزییات بزرگتر از 50 نانومتر را در این دستگاه تشخیص داد. 

 مشخصات دستگاه : 

LEO 1450 VP(Germany)

کاربردها :

• تهیه تصاویر و بررسی ساختار میكروسكوپی تا حداکثر بزرگنمایی 50000 مرتبه(قدرت تفکیک حدود 100 نانومتر)
• مجهز به آشکارسازSecondary electron جهت تهیه تصاویر سه بعدی(SE) و تصاویر فرکتوگرافی
• مجهز به آشکارساز Backscattered electron جهت تهیه تصاویر دو بعدی(BS) و کنتراست فازی
• مجهز به آشکارساز EDX جهت تعیین تركیب شیمیایی زمینه و آنالیز نقطه ای و توده ای به صورت عنصری به روی تصاویر، تهیه آنالیز صفحه ای و خطی ( Line scan, Map) و شناسایی مواد مجهول
• اندازه گیری ابعاد ذرات بالاتر از 100 نانومتر

شرایط نمونه تحویلی :

• از آنجاییکه میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی در خلاء کار می‌کنند، لذا نمونه ها  باید کاملاً خشک و فاقد هرگونه چربی و یا فاز فرار باشند. در این شرایط لازم است قبل از آزمون به روی نمونه ها فرایند های آماده سازی خاصی جهت حذف و یا فیکس چربی و یا رطوبت صورت گیرد.
• ابعاد نمونه ها بهتر است زیر 1 سانتیمتر باشد. در اینحالت 6 نمونه همزمان در دستگاه می تواند قرار داده شود. (حداکثر ابعاد نمونه تحویلی 3 سانتیمتر می باشد.) هرچه ارتفاع نمونه کمتر باشد امکان تهیه تصاویر در بزرگنمایی های کمتر امکان پذیر می گردد. (حداکثر ارتفاع نمونه بین 1تا 2 سانتیمتر می باشد.)
• پیشنهاد می گردد در نمونه های پودری با ابعاد زیر 1 میکرون فرایند اولتراسونیک را جهت توزیع بهتر انتخاب نمایید. البته این پیشنهاد صرفاً برای نمونه های خالص می باشد.
• در صورتیکه جزییات مورد درخواست شما کمتر از 100 نانومتر می باشد پیشنهاد می شود از دستگاههای FESEM استفاده نمایید.

 نام 

         مهین هوشیار صادقیان        

                                   داوودخادمی                                 

               پری سادات مداحی             

ساعت حضور

 14:30- 7 

20:30 - 14:30

14:30 - 7

تلفن 

051-38804392

051-38804393

051-38804389